微区分析

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X射线光电子能谱分析选择
场发射透射电子显微镜测试选择
傅立叶红外光谱分析选择
激光共聚焦拉曼光谱分析选择
冷场发射扫描电子显微镜测试(S4800)选择
热场发射扫描电子显微镜分析选择
透射电子显微镜分析选择
原子力显微镜测试选择
小角X射线散射分析选择

更多分类

X射线光电子能谱分析

THS-103

¥300.00

场发射透射电子显微镜(TEM)

美国FEI-Tecnai G2

¥50.00

傅立叶红外光谱分析

THS-108

¥60.00

激光共聚焦拉曼光谱分析

THS-109

¥100.00

冷场发射扫描电子显微镜测试(S4800)

日本日立-S4800

¥80.00

热场发射扫描电子显微镜分析(F250/F430)

美国FEI-QUANTA250

¥80.00

扫描电子显微镜(搭载EBSD探头)测试

美国FEI-Nova Nano SEM

¥500.00

双球差校正场发射透射电镜

美国FEI-Themis Z

¥3,000.00

透射电子显微镜分析(G20)

美国FEI-Tecnai G2 20

¥20.00

小角X射线散射分析

THS-126

¥300.00

原子力显微镜测试(AFM)

美国Bruker Dimension Icon

¥300.00