扫描电子显微镜(搭载EBSD探头)测试

¥500.00

  • 型号: 美国FEI-Nova Nano SEM
  • 商品库存: 有现货

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扫描电子显微镜(搭载EBSD探头)测试

测试样例

1)    样例1

2)    样例2

适用领域

金属、合金材料

面向学科

材料、机械等相关学科

样品要求

1)    参考标准:10*10*1mm2)    有毒易挥发样品请提前告知,对其它可能危害仪器的样品必须事先注明,并告知相关防护措施

收费标准

1)    制样:500元/样品 2)    标准测试:500元/小时,表征一个区域一般2-3小时

测试仪器

    仪器名称:扫描电子显微镜(搭载EBSD探头)
仪器型号:FEI Nova Nano SEM
    关键字:EBSD、取向、晶粒、织构、极图、物相分析

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