超高分辨冷场发射扫描电子显微镜(SEM)

¥80.00

  • 型号: 日本日立-Regulus 8100
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超高分辨冷场发射扫描电子显微镜

样例

    1) 离子研磨截面
    2) 纤维效果
    3) 花状形貌
    4) 高倍粒子
    5) mapping效果图

适用领域

    1) 广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究     2) 在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析,材料断口分析和失效分析     3) 各种材料的形貌组织观察;材料实时微区成分分析     4) 快速的多元素面扫描和线扫描分布测量;晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量     5) 元素定量、定性成分分析     6) 晶体、晶粒的相鉴定

面向学科

广泛应用于纳米材料、半导体器件、高分子材料、生物医学、新能源等学科

样品要求

    1) 提供详细的测试条件(电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等)     2) 样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品     3) 潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通

收费标准

    1) 形貌观察(无磁性、10万倍以下) 150元/样     2) 形貌观察(磁性样、5万倍以下) 200元/样     3) EDS能谱(随形貌2个区域且无磁性) +80元/样     4) EDS能谱(随形貌2个区域且有磁性) +100元/样     5) EDS能谱(单独测且无磁性) 120元/样     6) EDS能谱(单独测且有磁性) 200元/样     7) Mapping(无磁性1个区域)  300元/样     8) Mapping(磁性1个区域) 400元/样

仪器

仪器名称:超高分辨冷场发射扫描电子显微镜 仪器型号:Regulus 8100 仪器缩写:SEM 生产厂家:日本日立(Hitachi)
Regulus 8100保留了SU8010易维护、易操作等优点,进一步提高性能,1kV减速模式下z高分辨率达到了1.1nm,15kV达到0.8nm,高低电压均可满足高分辨的观察。

主要特点

    1) 配备加速电压减速功能,优良的低加速电压成像能力,1kV分辨率可达1.1nm     2) 日本日立专利E×B技术,无需喷镀,可直接观测不导电样品     3) 配备电子枪内置加热器,物镜光阑具有自清洁功能     4) SE与BSE任意比例搭配功能

主要参数

    1) 二次电子分辨率:0.8 nm(加速电压 15 kV)     2) 加速电压: 0.5~30 kV,着陆电压: 0.1~2 kV     3) 倍率: 20~1,000,000倍     4) 马达台控制: 3轴自动

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