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透射电子显微镜分析(G20)

  • 型 号THS-117
  • 库存状态有现货
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分析样例

       1)     样例

              

2)     样例

              

适用领域 

1)     反映样品组织形态的形貌,可获得各种材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征

2)     微区元素定性、定量及半定量的分析(EDX

3)     材料的物质内部显微结构电子衍射分析(SAED)

4)     广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学;金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域

 

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等


样品要求

1)     样品量:

a)      粉末:5mg以上(尽量充分研磨)

b)     液体样品:1mL以上(无沉淀)

2)     注意标注:样品有无磁性、毒性、挥发性等信息

收费标准      

1)     无磁性样品:

形貌观察200/样品

选区衍射+80

能谱+80

2)     磁性样品:

形貌观察400/样品

选区衍射+150

能谱+150

3)     制样费:

普通铜网:免费

微栅铜网20元每个

超薄碳膜30元每个

镍网50元每个

负染100/

分析仪器

仪器名称:透射电子显微镜
仪器型号:Tecnai G2 20
仪器缩写:TEM
生产厂家:美国FEI公司
安装日期:2013.06


     

仪器标签

形貌观察,能谱分析,选区电子衍射


仪器技术参数

1)     最大放大: 80万倍 (800,000×)

2)     点分辨率: 0.24 nm

3)     加速电压: 200KV

4)     最小束斑尺寸:0.5nm

5)     样品台: 普通单、双倾台,铍双倾台

6)     最大倾转角:±40°

7)     X射线能谱仪元素分析范围:B5U92

8)     X射线能谱仪能量分辨率: 130 eV