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原子力显微镜测试(AFM)

  • 型 号THS-183.
  • 库存状态有现货
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扫描探针显微镜/原子力显微镜测试

测试样例

1)    样例1

2)    样例2

3)    样例3

适用领域

    原子力显微镜,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中。

面向学科

    材料、物理、化学

样品要求

    固体薄膜(不小于0.5mm*0.5mm)、溶液、粉末

收费标准

1)    薄膜样品 300元/样
2)    固体样品(块状或有基底) 400元/样
3)    粉末/液体样品 500元/样
4)    纤维样品 600元/样

测试仪器

    仪器名称    扫描探针显微镜/原子力显微镜
    仪器型号    精工(Seiko)SPA400
    仪器厂家    日本精工
    关键字    精工(Seiko)扫描探针显微镜/原子力显微镜

采用轻敲半接触模式,可以测出样品表面、截面的二维、三维高度图,分析粗超度,给出粗超度曲线数据。 最高分辨率达到0.1nm,是一款可实现原子级分辨的可控环境SPM,适合各种金属、陶瓷及高分子、石墨烯、半导体薄膜材料等的性能表征,结果精确,仪器稳定。

仪器参数

1)    扫描范围:XY:20μm,Z:2μm(可扩展:XY最大150μm,Z最大15μm);
2)    形貌分辨能力 XY:0.2nm, Z: 0.01nm(可实现原子级分辨);
3)    样品最大尺寸为:φ35mm×10mm (H);

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