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场发射透射电子显微镜F20测试

  • 型 号THS-105
  • 库存状态有现货
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测试样例

1)     样例

              

2)     样例

             

3)     样例

             

 

适用领域 

Tecnai G2 F20 S-TWIN 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。

它将各种透射电镜技术(包括TEMSEADSTEMEDX频谱成像等)方便灵活地有机组合,形成强大的分析功能:

1)     形貌分析:它获得非晶材料的质厚衬度像,多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像 (原子像)

2)     结构分析:观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析,如:高分辨电子显微观察,系列欠焦像分析及出射波函数重构、电子衍射,会聚束电子衍射,纳米束衍射、Z-衬度(原子序数)成像等

3)     成分分析:小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析。反映样品组织形态的形貌及样品晶格条纹图象,可获得无机材料、有机材料,以及无机有机复合材料,尤其是粉体材料、纳米材料、纳米复合材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征;也可用于多相金属负载催化剂的晶型识别及粒子大小及其分布的表征

 

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等

 

样品要求

1)     粉末:5mg以上(尽量充分研磨)

2)     液体样品:1mL以上(无沉淀)

注意标注:样品有无磁性、毒性、挥发性等信息

 

收费标准      

1)     无磁性样品:

形貌观察+300/

高分辨晶格+100

选区衍射+100

能谱+100


2)     磁性样品:

形貌观察500/样品

高分辨晶格+150

选区衍射+150

能谱+150


3)     制样费:

普通铜网:免费

微栅铜网:20/

超薄碳膜:30/

镍网:50/

负染:100/

 

测试仪器            

仪器名称:场发射透射电子显微镜
仪器型号:Tecnai G2 F20
仪器缩写:TEM
生产厂家:美国FEI公司
安装日期:2014.07

       

Tecnai G2 F20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G2 F20成为材料分析研究的重要仪器。标准型仪器提供了已被证实的多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(最大40o)S-TWIN物镜, 提供样品精确控制和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G2 F20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G2 F20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G2 F20都能够满足日益增多的样品数量

 

仪器技术参数

1)     最大放大: 105万倍 (1,050,000×)

2)     点分辨率: 0.24 nm

3)     加速电压: 200KV

4)     极限(信息)分辨率:0.14 nm

5)     最小束斑尺寸:0.2nm

6)     样品台: 普通单、双倾台,铍双倾台

7)     最大倾转角:±40°

8)     X射线能谱仪元素分析范围:B5U92

9)     X射线能谱仪能量分辨率: 130 eV