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多晶(粉末)X射线衍射测试

  • 型 号THS-107
  • 库存状态有现货
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分析样例 

1)     样例

  


        2)     样例

         

 

适用领域 

1)     粉末样品物相分析

2)     药物XRD指纹谱,晶型分析

3)     金属表面物相分析

4)     水泥、矿石、宝石类结晶相物相分析

5)     结晶度分析

6)     样品的对照分析

 

面向学科

化学、药物、材料、农林、化工、环境、生化、矿物、地质、冶金、半导体等领域

 

样品要求

1)     粉末样品要求:干燥、在空气中稳定,粒度均匀,粒径小于20μm,粉末样品量约需30mg以上

2)     块状样品要求:测试面清洁平整,也可板状、片状或丝状,带基材的镀层等原始形状,厚度≤1cm,直径≤3cm

3)     特殊样品:极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小,且物质性质稳定,对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。如样品中含有FeCoNi等荧光物质,请告知

4)     请写明测试的起始角度,角扫描范围一般在90°之间

5)     剧毒样品需特别注明

6)     请注明样品保存条件,如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等,注明是否回收等

 

收费标准      

            广角(范围:5-90度)                                   50/

           小角 (范围:0.5-5度)                                  100/

            慢扫(低于6/min                                  200/小时

             


分析仪器

Powder X-Ray Diffractometer

仪器型号:D8 ADVANCE

仪器缩写:XRD

生产厂家:德国Bruker公司

安装日期:2014.01

标签:粉末样品 多晶样品 物相分析 晶型分析 结晶度 XRD 


 

仪器简介

布鲁克D8 ADVANCE 多晶(粉末)X射线衍射仪样品台水平固定,适合测试粉末样品、块状固体等。主要应用于混合物相的定性分析;样品的对照分析;晶体物相的半定量分析;材料晶体结构的表征;结晶度分析等

 

仪器技术参数

1)     X-射线发生器最大输出功率3000W
X-
射线光管:Cu

2)     测角仪:光学编码器技术,th/2th可以联动单独转动,且可连续改变,最小运动步长0.0001

3)     样品测角头X,Y,Z可调

4)     光路系统:石墨单色器用于入射光路

5)     探测器:采用LynxEye一维阵列探测器,具有较高的接收效率、灵敏度和稳定性