冷场发射扫描电子显微镜测试(S4800)

¥80.00

  • 型号: 日本日立-S4800
  • 商品库存: 有现货

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测试样例 

1)     样例

 

2)     样例

       


适用领域 

1)     广泛地应用于各种金属材料和非金属材料的检验和研究

2)     在材料科学研究、金属材料、化学材料、半导体材料、陶瓷材料等多个领域可以进行材料的微观形貌、组织、成分分析,材料断口分析和失效分析

3)     各种材料的形貌组织观察;材料实时微区成分分析

4)     快速的多元素面扫描和线扫描分布测量;晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量

5)     元素定量、定性成分分析

6)     晶体、晶粒的相鉴定

 

面向学科

化学、化工、高分子、材料、环境、生物、医学、药学、农学、地质、食品、生命科学等

  

样品要求

1)     请根据自己样品的性质及测试需求,自行查阅相关资料后,提供详细的测试条件(电压、电流、信号、放大倍数、标尺、理想的照片等)

2)     样品量不少于3 mg。可以接受固体、粉末、薄膜或纤维样品

3)     潮湿的样品不能测试。有机的样品需要具体沟通

 

收费标准      

1)     形貌观察(无磁性、10万倍以下)                    150/

2)     形貌观察(磁性样、5万倍以下)                     200/

3)     EDS能谱(随形貌2个区域且无磁性)               +80/

4)     EDS能谱(随形貌2个区域且有磁性)               +100/

5)     EDS能谱(单独测无磁性)                              120/

6)     EDS能谱(单独测且有磁性)                               200/

 

测试仪器

仪器名称:冷场发射扫描电镜显微镜

Hitachi S4800

仪器型号:S4800

仪器缩写: SEM

生产厂家:日本日立公司

       

      

仪器技术参数

1)     高分辨率FE-SEM对下列尖端材料进行解析时具有一定的效果

2)     对电子材料表面形状的高分辨率观察(5nm以下)

3)     对高分子复合材料的极低加速电压低损伤观察

4)     对纳米材料表面/内部结构的相辅性观察



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